通过晶体管持续小型化提升集成度的摩尔定律已接近物理极限,电子器件如何实现超小型化和高性能化?东方理工大学讲席教授魏苏淮与合作者提出了光学声子模软化新思路,该研究成果登上《Nature》。10月30日,宁波东方理工大学(暂名)物理学院院长、讲席教授魏苏淮,联合中国科学院半导体研究所骆军委研究员、邓惠雄研究员研究组,以“通过降低原子化学键强度诱导的光学声子软化避免退极化效应(Softening of the optical phonon by reduced interatomic bonding strength without depolarization)”为题的论文,发表在《Nature》杂志。
《Nature》也同期以“应力可以使节能储存器件成为可能(Strain could enable energy-saving memories)”为题,介绍了这项研究成果。该研究为未来电子器件的超小型化、高性能化开辟了新方向,实现了基础研究与应用相结合的重大突破。